1. Designing, testing, and diagnostics- join them
المؤلف: International Test conference )3991: Baltimore, Md.(
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Testing- congresses,، Electronic digital computers- Circuits- Testing-Congresses
رده :
TK
7874
.
I474
1993